Донаев, С. (2023). Электронная спектроскопия и микроскопия поверхности бинарных материалов (Pd–Ba, CoSi2 и GaAs), имплантированных ионами низких энергии. Каталог авторефератов, 1(1), 1–46. извлечено от https://inlibrary.uz/index.php/autoabstract/article/view/49267